Centre Castaing

Plan du site

Présentation

• Centre de microcaractérisation Raimond Castaing
• Qui était Raimond Castaing ?

• Organisation

  • Comité d’Orientation Stratégique (COS)
  • Comité opérationnel COPER
  • CHCST(Commission d’Hygiène, de Sécurité et des Conditions de Travail)
  • COMER
  • REVUE DE DIRECTION

Personnels

• Personnels

Plaquette à télécharger

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Equipements

• Microsondes Electroniques

  • Microsonde Electronique CAMECA SXFive FE
  • Microsonde Electronique CAMECA SXFive

• Microscopes Electroniques à Balayages (MEB)

  • MEB/FIB FEI HELIOS 600i - EDS
  • MEB-FEG JEOL JSM 7800F Prime - EDS
  • MEB FEG JEOL JSM 7100F TTLS LV - EDS/EBSD
  • MEB FEG JEOL JSM 6700F - EDS

• Microscopes Electroniques en Transmission (MET)

  • MET JEOL JEM-ARM200F Cold FEG corrigé sonde - EDS/EELS
  • MET JEOL JEM 2100F - EDS
  • MET JEOL JEM 1400 ORIUS
  • MET JEOL JEM 1011
  • MET JEOL JEM 1400 Rio - EDS

• Spectromètre de Masse d’Ions Secondaires (SIMS) - Spectrométrie à Décharge Luminescente (SDL - GD-OES)

  • SIMS CAMECA IMS 4FE6
  • GDOES : Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy

• Matériels de préparation

  • Préparation des échantillons pour observation au MEB et techniques d’analyses associées (EBSD)

    • Polisseuse par vibrations BUEHLER VibroMet 2
    • Appareil de polissage électrolytique Struers Lectropol-5
    • Cross section polisher JEOL modèle IB-19510CP
    • Polisseuse ESCIL ESC 300GTL
    • Polisseuse Handy Lap HL-2
    • Mire certifiée

  • Préparation des échantillons pour observation au MET

    • Nettoyeur Plasma GATAN SOLARUS modèle 950
    • Amincisseur électrolytique Struers Tenupol-5
    • Polisseur ionique haute précision GATAN modèle 691 PIPS
    • Polisseur ionique haute précision GATAN modèle 695 PIPS II
    • Station de pompage JEOL modèle JEC-4000DS
    • Station de pompage du 2100F Model 655
    • Scie à fil WELL 3032
    • Cuveuteuse GATAN Model 656 - 1
    • Etuve
    • Plaque Chauffante
    • Nettoyeur Plasma PICO
    • Plaque Chauffante WELLER WT1
    • Polisseuse Mecatech 250 SPC
    • Ultra microtome ultra cut E
    • Paque chaufante WELLER

  • Métalliseurs

    • Système de pulvérisation cathodique et évaporation Carbone Leica EM ACE600 I
    • Système d’évaporation Carbone Leica EM ACE600 II
    • Système de métallisation et décapage de haute résolution GATAN modèle PECS 682
    • Métalliseur Pt JEOL JFC-2300HR

  • Microscopes Optiques

    • Microscope inversé métallographique NIKON
    • Microscope droit pétrographique NIKON
    • Stéréomicroscope binoculaire NIKON
    • Stéréomicroscope binoculaire MOTIC - salle microsondes
    • Stéréomicroscope binoculaire MOTIC - salle FIB
    • Binoculaire ARM Vision SX45
    • Binoculaire 2100F Vision SX45
    • Binoculaire salle de préparation 3
    • Binoculaire 1400

  • Découpe d’échantillons

    • Tronçonneuse ESCIL Brillant 220
    • Micro-tronçonneuse de précision Isomet
    • Tronconneuse ESCIL Labcut 150

• Logiciel de traitement de données

  • Logiciel de traitement de données - Accueil-EBSD
  • Logiciel de traitement de données - Accueil STEM/EDS
  • Logiciel de traitement de données - Accueil-3D

Localisation

• Nous rejoindre

Grille tarifaire

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Domaines d’application

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Politique qualité

• Politique qualité du Centre CASTAING

FAQ

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