Caractérisations structurales, microstructurales et chimiques de matériaux jusqu’à l’échelle atomique.
Précisions
Le centre rassemble et mutualise les compétences techniques et scientifiques dans le domaine des caractérisations multi-échelles de matériaux solides. Plus spécifiquement, ces analyses sont faites par sondes électroniques (microscopie électronique en transmission MET, microscopie électronique en balayage MEB, microsonde de Castaing SONDE) ou ioniques (colonne d’ions focalisés FIB, spectromètre de masse d’ions secondaires SIMS). L’analyse des signaux électroniques, ioniques et photoniques (RX) permet de caractériser l’organisation périodique à l’échelle atomique (structure), l’organisation des cristallites en surface et en volume (microstructure) mais aussi la composition chimique des matériaux (analyse qualitative et quantitative). La diversité des techniques permet de sonder la matière de l’échelle micronique jusqu’à l’échelle atomique.
Les techniques à disposition au centre s’étendent de la préparation des échantillons à la réalisation des mesures dans des conditions optimisées et à l’interprétation des résultats.
Ces techniques de caractérisations s’appliquent aux matériaux solides tels que les métaux, céramiques, géomatériaux, polymères, composites, nanomatériaux, semiconducteurs, …
Domaines d’application
Les utilisateurs potentiels sont les membres des organismes de recherche et les acteurs socio-économiques.
Les domaines d’applications concernés sont multiples. Ils concernent principalement les domaines de la construction et BTP, l’aéronautique et le spatial, l’énergétique et la production d’énergie, les industries chimique et métallurgique, l’électronique et les systèmes embarqués, l’automobile et le transport, les biotechnologies et industrie pharmaceutique, …
