Contacts
Claudie Josse, Stephane Le Blond Du Plouy, Laurent Weingarten
Présentation
MEB JEOL JSM-6700F
@TEMSCAN
Le JSM-6700F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) équipé d’un EDS.
Caractéristiques Techniques
- Source à émission de champ - cathode froide
- Tension d’accélération de 0,5 à 30 kV
- Imagerie électrons secondaires haute résolution : 1 nm à 15 kV ; 2,2 nm à 1 kV
- Imagerie électrons rétrodiffusés
- EDS SDD 80mm2 OXFORD Instruments - Logiciel Aztec
- Analyse automatisée des particules - Logiciel Aztec Feature
- Date d’acquisition : novembre 2003
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